HAST試驗(yàn)概述

HAST（Highly Accelerated Stress Test）即高加(jiā)速應力(lì)試(shì)驗，是一種(zhǒng)用(yòng)於評估(gū)電(diàn)子元(yuán)器件和(hé)產品可(kě)靠性(xìng)的(dí)加(jiā)速(sù)試驗(yàn)方(fāng)法(fǎ)。

一，試驗(yàn)目的

HAST 試(shì)驗(yàn)的主要目的是(shì)在短時間內加(jiā)速模擬(nǐ)電子產品在高溫，高濕(shī)和高壓等惡劣環境下(xià)的使(shǐ)用情(qíng)況，以(yǐ)快速暴(bào)露產(chǎn)品潛(qián)在(zài)的(dí)可(kě)靠(kào)性問題(tí)，如(rú)封裝(zhuāng)不(bù)良(liáng)，材(cái)料老化，金(jīn)屬腐(fǔ)蝕等(děng)。通過這(zhè)種試驗，可以幫助(zhù)製(zhì)造商(shāng)在產品研發和生產(chǎn)階段(duàn)及(jí)時(shí)發(fā)現問(wèn)題(tí)，進行改(gǎi)進(jìn)和(hé)優(yōu)化(huà)，提高產品(pǐn)的質量(liáng)和可靠性(xìng)，降(jiàng)低(dī)產(chǎn)品(pǐn)在(zài)實際(jì)使(shǐ)用(yòng)中(zhōng)的(dí)故(gù)障率(shuài)。

二，試驗條(tiáo)件

溫度：通常在(zài) 110℃至(zhì) 130℃之(zhī)間，比(bǐ)傳統(tǒng)的溫(wēn)度(dù)濕(shī)度試驗（如 85℃/85% RH）的溫(wēn)度更高，加(jiā)速了化學反應和物理變化(huà)的速(sù)度。

濕(shī)度(dù)：一(yī)般(bān)在 85% RH 以上(shàng)，高濕度(dù)環境有(yǒu)助於加速水(shuǐ)分(fēn)滲透(tòu)和(hé)腐蝕過程(chéng)。

壓力：通(tōng)常施(shī)加一(yī)定的壓力，如 0.2MPa 至(zhì) 0.5MPa，以進一步加(jiā)速(sù)濕(shī)氣滲透(tòu)到(dào)產(chǎn)品內部(bù)的(dí)速度(dù)。

三，試驗(yàn)過程

將(jiāng)待(dài)測(cè)產品放入 HAST 試驗(yàn)箱中，設置(zhì)好試驗(yàn)條(tiáo)件(jiàn)，如溫度(dù)，濕度(dù)和(hé)壓力(lì)等，然(rán)後(hòu)啟(qǐ)動試驗(yàn)。試驗(yàn)時間一(yī)般較短(duǎn)，通常為幾十個小(xiǎo)時(shí)到(dào)幾百(bǎi)個小(xiǎo)時不等，具體時(shí)間(jiān)取決於產品的(dí)類(lèi)型和(hé)要求(qiú)。在(zài)試驗(yàn)過程中，持續(xù)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的性(xìng)能參(cān)數，如(rú)電(diàn)氣(qì)性能(néng)，絕(jué)緣電阻，外觀變化(huà)等。如(rú)果產品(pǐn)在(zài)試(shì)驗(yàn)過程中(zhōng)出(chū)現故障或性能下(xià)降，則需(xū)要(yào)對產(chǎn)品進(jìn)行(háng)分析(xī)和(hé)改進(jìn)。

四，應用範圍

HAST 試(shì)驗廣(guǎng)泛(fàn)應用於電子元器(qì)件，集成(chéng)電(diàn)路，印刷(shuā)電(diàn)路(lù)板，電(diàn)子(zǐ)組裝件等電子(zǐ)產品的(dí)可靠(kào)性評估。特(tè)別是對於(yú)一些高(gāo)可靠性(xìng)要(yào)求的(dí)產品，如航空(kōng)航天(tiān)，汽車電子(zǐ)，醫療設(shè)備(bèi)等，HAST 試(shì)驗(yàn)是一種重要(yào)的質量