>

P產品分(fēn)類(lèi)RODUCT CATEGORY
您(nín)的(dí)位置(zhì):網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文(wén)章(zhāng) > 高低溫(wēn)衝擊試驗(yàn)箱與(yǔ)普通(tōng)循(xún)環試(shì)驗(yàn)箱的(dí)區(qū)別 高(gāo)低溫衝(chōng)擊試驗箱(xiāng)主(zhǔ)要(yào)可以做(zuò)兩(liǎng)種試(shì)驗,分別(bié)是衝擊(jī)試驗和(hé)循(xún)環試(shì)驗(yàn),這(zhè)兩(liǎng)種(zhǒng)試(shì)驗(yàn)方式是有(yǒu)很(hěn)大(dà)差別的,
高(gāo)低溫衝(chōng)擊試驗(yàn)箱(xiāng)是金(jīn)屬,塑(sù)料(liào),橡(xiàng)膠,電子(zǐ)等材(cái)料(liào)行(háng)業*的(dí)測試設備, 用(yòng)於測(cè)試材料結(jié)構或(huò)復合(hé)材料(liào),在瞬間下(xià)經(jīng)溫(wēn)及(jí)極低溫(wēn)的(dí)連續環(huán)境(jìng)下所能忍(rěn)受的程(chéng)度,得以在zui短(duǎn)時(shí)間內檢(jiǎn)測(cè)試樣(yàng)因熱脹冷(lěng)縮所引起的(dí)化學變化(huà)或物(wù)理(lǐ)傷害。
高低溫(wēn)衝擊(jī)試驗(yàn)箱循(xún)環試驗是指(zhǐ)匀速從(cóng)常溫降到低溫(wēn)再升溫(wēn),恒溫,以(yǐ)此(cǐ)循(xún)環類推做(zuò)試驗(yàn)。這類(lèi)試驗(yàn)多(duō)用於電子電式產(chǎn)品或通訊工具(jù)做測(cè)試,檢測產(chǎn)品(pǐn)是(shì)否能(néng)在高(gāo)溫(wēn)如:沙(shā)特,也(yě)門,阿曼,印(yìn)度(dù),斯(sī)裏(lǐ)蘭(lán)卡,馬(mǎ)爾代夫,孟加拉(lā)國等。低溫(wēn)主要(yào)適(shì)用於(yú)俄(é)羅斯,寒極等地(dì)區,檢測(cè)產品是(shì)否適應各種不同的環境(jìng),從(cóng)而(ér)判(pàn)斷新研發的產(chǎn)品的(dí)銷售市場。
高(gāo)低溫衝擊(jī)試驗(yàn)箱衝擊試(shì)驗與循(xún)環(huán)試(shì)驗(yàn)的(dí)差異(yì)主(zhǔ)要(yào)是應力(lì)負荷(hé)機(jī)理(lǐ)不同。衝擊試驗(yàn)主(zhǔ)要考(kǎo)察由於蠕(rú)變(biàn)及(jí)疲(pí)勞(láo)損傷引(yǐn)起的(dí)失效,而溫(wēn)度循(xún)環主要考察由於剪切(qiē)疲(pí)勞引(yǐn)起的(dí)失效。循環試(shì)驗(yàn)用普通(tōng)的(dí)高(gāo)低溫測(cè)試箱測試即可。 引起(qǐ)溫(wēn)度(dù)衝(chōng)擊試驗(yàn)箱衝擊的的(dí)原(yuán)理:回流焊(hàn),幹燥,再加工,修理等(děng)製(zhì)造,修理(lǐ)工藝(yì)中(zhōng)劇烈的(dí)溫(wēn)度(dù)變化。因(yīn)為衝(chōng)擊(jī)試(shì)驗有著*的(dí)破壞性(xìng)對(duì)產(chǎn)品(pǐn)的性能要求很高(gāo),一(yī)般(bān)適用於單(dān)位或公(gōng)司做產品(pǐn)研(yán)發用。
