三箱冷(lěng)熱衝擊(jī)箱(xiāng)適(shì)用的對象(xiàng)包(bāo)括(kuò)金屬(shǔ),汽(qì)車電(diàn)子,橡膠(jiāo),電工(gōng)電(diàn)子(zǐ),IC芯片,LED照(zhào)明,軍(jūn)工,航(háng)空(kōng)航(háng)天等材(cái)料檢(jiǎn)測分析(xī)的(dí)重要儀器(qì)設(shè)備,測試結(jié)果可作(zuò)為(wéi)其(qí)產(chǎn)品改進(jìn)的重要(yào)依(yī)據或參考。
產(chǎn)品(pǐn)型(xíng)號(hào):TSD-150F-3P
廠商性質(zhì):生產廠家
更(gēng)新時間:2025-10-19
訪 問 量:736
| 品牌 | 廣皓(hào)天 | 價(jià)格(gé)區間 | 5萬(wàn)-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類(lèi)別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領域 | 能(néng)源,電(diàn)子/電池,道路(lù)/軌(guǐ)道/船(chuán)舶,航(háng)空(kōng)航(háng)天,電氣 |
| 高溫(wēn)區 | +60℃~200℃ | 低溫區 | -10℃~-60℃ |
| 溫(wēn)度波動度 | ±0.5℃ | 溫(wēn)度(dù)均匀度 | ±3℃ |
| 溫度恢(huī)復時間(jiān) | 3~5 分(fēn)鐘 | 高(gāo)溫槽升溫(wēn)速度 | 平均約 5℃/min |
| 低溫(wēn)槽降溫速(sù)度 | 平均(jūn)約 1.5℃/min | 高(gāo)低溫暴露時(shí)間 | 30min 以上(shàng) |
| 高(gāo)低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10秒(miǎo) | 樣品(pǐn)容積 | 36L |
| 工作室尺(chǐ)寸(cùn) | 600×500×500mm(寬 × 高 × 深) | 外(wài)形(xíng)尺(chǐ)寸 | 約(yuē) 1880×1850×2120mm |
| 電源 | 380V/50Hz | 重(zhòng)量(liáng) | 約 560kg |
三(sān)箱(xiāng)冷熱(rè)衝擊箱
產(chǎn)品用(yòng)途(tú):
冷熱衝擊試(shì)驗(yàn)箱(xiāng)可(kě)用來測試材(cái)料結構或復合(hé)材料,在(zài)瞬(shùn)間下(xià)經*溫(wēn)及極(jí)低(dī)溫的連(lián)續(xù)環境下所能忍受的程度(dù),藉以(yǐ)在短時間(jiān)內試(shì)驗(yàn)其(qí)因熱(rè)脹冷縮(suō)所引(yǐn)起的(dí)化學變(biàn)化(huà)或物理傷(shāng)害(hài)。適用的(dí)對象(xiàng)包括金屬,汽(qì)車電(diàn)子,橡膠(jiāo),電(diàn)工(gōng)電(diàn)子,IC芯(xīn)片,LED照明(míng),軍(jūn)工,航空(kōng)航(háng)天(tiān)等材料(liào)檢測(cè)分析的(dí)重要(yào)儀器設備,測(cè)試結果(guǒ)可作為其(qí)產品(pǐn)改(gǎi)進的(dí)重要依(yī)據或(huò)參(cān)考。

二(èr),結構(gòu)設計
三箱(xiāng)式布局
由高(gāo)溫箱,低(dī)溫(wēn)箱(xiāng)和(hé)測試箱組(zǔ)成(chéng)。高(gāo)溫(wēn)箱采用(yòng)耐高(gāo)溫的加熱(rè)元件(jiàn),能(néng)夠(gòu)快速達到並穩(wěn)定(dìng)維持(chí)設定的(dí)高(gāo)溫環境;低溫(wēn)箱(xiāng)配(pèi)備高(gāo)效(xiào)製(zhì)冷(lěng)係(xì)統(tǒng),可實現極(jí)低(dī)溫度。測(cè)試箱用於(yú)放置航(háng)天(tiān)設備(bèi)樣品,通(tōng)過快速(sù)的風道(dào)切換係(xì)統,實現(xiàn)樣品(pǐn)在極(jí)短時間(jiān)內(nèi)於高溫和低溫(wēn)環境(jìng)之間切(qiē)換。
箱(xiāng)體(tǐ)材(cái)質
外殼(ké)采用(yòng)優質冷軋鋼(gāng)板,表(biǎo)麵經(jīng)防鏽處(chǔ)理(lǐ)後再進行(háng)靜(jìng)電噴(pēn)塑,美(měi)觀且耐用。內箱(xiāng)則選(xuǎn)用不(bù)鏽鋼材質,具有(yǒu)良好(hǎo)的(dí)耐腐(fǔ)蝕(shí)性和熱傳導(dǎo)性,確(què)保試驗環境的(dí)穩定(dìng)性。
三,技術參數
溫(wēn)度範(fàn)圍
高(gāo)溫區可(kě)達(dá) +150℃ - +200℃,低溫(wēn)區(qū)可低(dī)至 -70℃ - - 80℃,能夠(gòu)滿足絕大(dà)多數(shù)航天應用場景(jǐng)的溫(wēn)度模擬(nǐ)需求(qiú)。
溫(wēn)度衝擊速率(shuài)
從高溫到(dào)低(dī)溫(wēn)或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時間可控製在數分鐘內,能(néng)逼真(zhēn)地模擬航天(tiān)設備在軌(guǐ)道運行時(shí)的快速(sù)溫度(dù)變化。
溫度均匀性
在(zài)測試箱內(nèi),溫(wēn)度(dù)均匀度可(kě)達(dá) ±2℃,保證航(háng)天設備(bèi)各部位(wèi)都(dū)能(néng)受到均匀的溫(wēn)度(dù)衝擊。
四,控製(zhì)係(xì)統(tǒng)
智能(néng)控製
采(cǎi)用(yòng)先(xiān)進的(dí)微(wēi)電腦可編程控(kòng)製係統,可預先(xiān)設置多種(zhǒng)溫(wēn)度(dù)衝擊循環(huán)模式,操作界麵直觀(guān)簡潔,便於(yú)技術人(rén)員操作(zuò)。
數據記錄與監(jiān)控
具(jù)備(bèi)高精度(dù)的溫(wēn)度傳感器(qì),能夠實(shí)時監控(kòng)並(bìng)記錄(lù)試驗(yàn)過(guò)程(chéng)中(zhōng)的溫度數(shù)據。同時,支(zhī)持(chí)數(shù)據導出(chū)功能,方(fāng)便用(yòng)戶(hù)進行(háng)後續的(dí)分(fēn)析和存(cún)檔(dàng)。

三(sān)箱(xiāng)冷(lěng)熱衝擊(jī)箱(xiāng)
滿(mǎn)足標(biāo)準
♦GB/T 11158-2008 高溫試(shì)驗箱(xiāng)技(jì)術(shù)條件
♦GB/T 10589-2008 低溫試(shì)驗(yàn)箱技(jì)術條(tiáo)件
♦GB/T 2423.1-2001 電(diàn)工(gōng)電(diàn)子產品環(huán)境試驗 第2部分(fēn):試(shì)驗(yàn)方法(fǎ) 試驗(yàn)A:低溫
♦GB/T 2423.2-2001 電工(gōng)電(diàn)子產(chǎn)品環境試驗(yàn) 第(dì)2部(bù)分:試(shì)驗方法(fǎ) 試(shì)驗(yàn)B:高溫
♦GB/T 2423.22-2002 電工電子(zǐ)產品環境試(shì)驗(yàn) 第2部(bù)分:試(shì)驗(yàn)方(fāng)法 試驗N:溫度(dù)變化
♦GJB150.3-86 J用(yòng)設備環境(jìng)實(shí)驗(yàn)方(fāng)法 高(gāo)溫衝(chōng)擊試(shì)驗
♦GJB150.4-86 J用設(shè)備(bèi)環境(jìng)實(shí)驗方法 低溫(wēn)衝擊試(shì)驗(yàn)
♦GJB150.5-86 J用(yòng)設(shè)備環境實(shí)驗方法(fǎ) 溫度(dù)衝擊(jī)試驗(yàn)
♦GJB360.7-87 電(diàn)子(zǐ)機電氣元(yuán)件試驗(yàn)方法 溫度衝(chōng)擊試(shì)驗





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