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歡(huān)迎(yíng)光臨廣(guǎng)東皓天檢(jiǎn)測儀(yí)器(qì)有限公司(sī)網站(zhàn)!
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服務(wù)熱綫(xiàn):

產(chǎn)品(pǐn)展示(shì) / products 您(nín)的(dí)位(wèi)置:網站首(shǒu)頁 > 產品展(zhǎn)示(shì) > 冷熱衝擊試驗箱(xiāng) > 三(sān)箱式冷熱(rè)衝擊(jī)試(shì)驗箱 > TSD-150F-3P檢(jiǎn)測(cè)儀器設(shè)備(bèi) 皓天(tiān)三(sān)箱冷(lěng)熱(rè)衝(chōng)擊箱(xiāng)廠(chǎng)家(jiā)
檢(jiǎn)測儀器設(shè)備 皓(hào)天三(sān)箱冷熱(rè)衝擊箱(xiāng)廠家
簡要(yào)描(miáo)述:

檢測儀器設備 皓天三(sān)箱冷熱衝(chōng)擊(jī)箱廠家
適(shì)用的對(duì)象(xiàng)包括金(jīn)屬,汽(qì)車(chē)電子,橡(xiàng)膠,電工(gōng)電子,IC芯片(piàn),LED照明,軍(jūn)工(gōng),航空(kōng)航(háng)天(tiān)等(děng)材料檢(jiǎn)測(cè)分析的(dí)重(zhòng)要儀器設備,測(cè)試結果可作(zuò)為其(qí)產品改進的重(zhòng)要依據(jù)或(huò)參(cān)考(kǎo)。

  • 產品(pǐn)型(xíng)號:TSD-150F-3P
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生(shēng)產廠家(jiā)
  • 更新(xīn)時間:2025-10-19
  • 訪  問  量(liáng):818
詳(xiáng)情(qíng)介(jiè)紹(shào)
品牌廣(guǎng)皓天價(jià)格區間(jiān)5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地(dì)類別(bié)國產應(yīng)用領(lǐng)域能(néng)源,電子/電(diàn)池(chí),道(dào)路/軌道(dào)/船舶(bó),航(háng)空航天,電氣(qì)
高(gāo)溫(wēn)區(qū)+60℃~200℃低溫區-10℃~-60℃
溫度(dù)波(bō)動度(dù)±0.5℃溫度均(jūn)匀度(dù)±3℃
溫度恢復(fù)時(shí)間3~5 分鐘 高溫(wēn)槽升(shēng)溫(wēn)速度(dù)平(píng)均約(yuē) 5℃/min
低溫(wēn)槽降(jiàng)溫(wēn)速度平均約 1.5℃/min高(gāo)低溫(wēn)暴(bào)露(lòu)時間(jiān) 30min 以(yǐ)上
高(gāo)低溫轉(zhuǎn)換時間(jiān)≤10秒(miǎo)樣(yàng)品(pǐn)容(róng)積(jī)36L
工作(zuò)室尺寸600×500×500mm(寬(kuān) × 高(gāo) × 深)外形尺(chǐ)寸(cùn)約(yuē) 1880×1850×2120mm
電(diàn)源(yuán)380V/50Hz重量約(yuē) 560kg

檢(jiǎn)測儀(yí)器(qì)設(shè)備(bèi) 皓(hào)天(tiān)三(sān)箱(xiāng)冷熱(rè)衝擊(jī)箱廠家



產品用途:

 冷(lěng)熱衝擊(jī)試驗箱可用來測(cè)試材料結(jié)構或(huò)復合材料,在瞬(shùn)間(jiān)下經(jīng)*溫及極(jí)低溫(wēn)的連(lián)續環境下所能(néng)忍(rěn)受的程度(dù),藉以(yǐ)在(zài)短時(shí)間內(nèi)試驗其(qí)因(yīn)熱脹冷縮所(suǒ)引起的(dí)化學變(biàn)化(huà)或(huò)物(wù)理(lǐ)傷(shāng)害(hài)。適用(yòng)的(dí)對(duì)象包括金屬,汽(qì)車(chē)電子(zǐ),橡膠(jiāo),電工(gōng)電子(zǐ),IC芯片,LED照明,軍(jūn)工(gōng),航(háng)空航天(tiān)等(děng)材料檢測分析的(dí)重要儀(yí)器設備,測(cè)試(shì)結果可(kě)作(zuò)為其產品(pǐn)改進的(dí)重(zhòng)要(yào)依據或(huò)參考(kǎo)。


檢測儀器設備 皓天三箱(xiāng)冷熱衝擊箱廠(chǎng)家


技術(shù)參數(shù):

測試(shì)室溫度(dù)範(fàn)圍(wéi):-40℃~+150(風(fēng)冷式)

低(dī)溫衝擊範(fàn)圍:-10℃~-40℃(任意(yì)可(kě)調)

高(gāo)溫衝(chōng)擊範圍:60℃~150℃(任(rèn)意(yì)可(kě)調(tiáo))


檢測儀器設備(bèi) 皓天三(sān)箱冷(lěng)熱衝(chōng)擊(jī)箱廠(chǎng)家


檢(jiǎn)測(cè)儀器(qì)設備 皓天(tiān)三(sān)箱冷熱衝(chōng)擊箱廠(chǎng)家



滿(mǎn)足標準(zhǔn)

♦GB/T 11158-2008 高溫(wēn)試驗箱技術條件(jiàn)

♦GB/T 10589-2008 低(dī)溫試驗箱(xiāng)技術條件(jiàn)

♦GB/T 2423.1-2001 電工(gōng)電子產(chǎn)品環(huán)境試(shì)驗(yàn) 第2部(bù)分:試(shì)驗方(fāng)法 試驗A:低(dī)溫

♦GB/T 2423.2-2001 電工(gōng)電子(zǐ)產品環境試驗(yàn) 第2部分:試驗方法(fǎ) 試驗B:高(gāo)溫(wēn)

♦GB/T 2423.22-2002 電(diàn)工電(diàn)子(zǐ)產(chǎn)品環境試驗(yàn) 第2部(bù)分(fēn):試驗方法 試(shì)驗N:溫(wēn)度變(biàn)化

♦GJB150.3-86 J用設備環境(jìng)實驗方法 高溫衝擊試驗(yàn)

♦GJB150.4-86 J用設備環境實驗(yàn)方法 低(dī)溫衝擊(jī)試(shì)驗(yàn)

♦GJB150.5-86 J用設備環(huán)境實(shí)驗方(fāng)法 溫度衝(chōng)擊試驗

♦GJB360.7-87 電子(zǐ)機電氣元件(jiàn)試驗方法 溫(wēn)度(dù)衝擊(jī)試(shì)驗







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