檢測儀器設備 皓天三(sān)箱冷熱衝(chōng)擊(jī)箱廠家適(shì)用的對(duì)象(xiàng)包括金(jīn)屬,汽(qì)車(chē)電子,橡(xiàng)膠,電工(gōng)電子,IC芯片(piàn),LED照明,軍(jūn)工(gōng),航空(kōng)航(háng)天(tiān)等(děng)材料檢(jiǎn)測(cè)分析的(dí)重(zhòng)要儀器設備,測(cè)試結果可作(zuò)為其(qí)產品改進的重(zhòng)要依據(jù)或(huò)參(cān)考(kǎo)。
產品(pǐn)型(xíng)號:TSD-150F-3P
廠(chǎng)商性質(zhì):生(shēng)產廠家(jiā)
更新(xīn)時間:2025-10-19
訪 問 量(liáng):818
| 品牌 | 廣(guǎng)皓天 | 價(jià)格區間(jiān) | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地(dì)類別(bié) | 國產 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能(néng)源,電子/電(diàn)池(chí),道(dào)路/軌道(dào)/船舶(bó),航(háng)空航天,電氣(qì) |
| 高(gāo)溫(wēn)區(qū) | +60℃~200℃ | 低溫區 | -10℃~-60℃ |
| 溫度(dù)波(bō)動度(dù) | ±0.5℃ | 溫度均(jūn)匀度(dù) | ±3℃ |
| 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 3~5 分鐘 | 高溫(wēn)槽升(shēng)溫(wēn)速度(dù) | 平(píng)均約(yuē) 5℃/min |
| 低溫(wēn)槽降(jiàng)溫(wēn)速度 | 平均約 1.5℃/min | 高(gāo)低溫(wēn)暴(bào)露(lòu)時間(jiān) | 30min 以(yǐ)上 |
| 高(gāo)低溫轉(zhuǎn)換時間(jiān) | ≤10秒(miǎo) | 樣(yàng)品(pǐn)容(róng)積(jī) | 36L |
| 工作(zuò)室尺寸 | 600×500×500mm(寬(kuān) × 高(gāo) × 深) | 外形尺(chǐ)寸(cùn) | 約(yuē) 1880×1850×2120mm |
| 電(diàn)源(yuán) | 380V/50Hz | 重量 | 約(yuē) 560kg |
檢(jiǎn)測儀(yí)器(qì)設(shè)備(bèi) 皓(hào)天(tiān)三(sān)箱(xiāng)冷熱(rè)衝擊(jī)箱廠家
產品用途:
冷(lěng)熱衝擊(jī)試驗箱可用來測(cè)試材料結(jié)構或(huò)復合材料,在瞬(shùn)間(jiān)下經(jīng)*溫及極(jí)低溫(wēn)的連(lián)續環境下所能(néng)忍(rěn)受的程度(dù),藉以(yǐ)在(zài)短時(shí)間內(nèi)試驗其(qí)因(yīn)熱脹冷縮所(suǒ)引起的(dí)化學變(biàn)化(huà)或(huò)物(wù)理(lǐ)傷(shāng)害(hài)。適用(yòng)的(dí)對(duì)象包括金屬,汽(qì)車(chē)電子(zǐ),橡膠(jiāo),電工(gōng)電子(zǐ),IC芯片,LED照明,軍(jūn)工(gōng),航(háng)空航天(tiān)等(děng)材料檢測分析的(dí)重要儀(yí)器設備,測(cè)試(shì)結果可(kě)作(zuò)為其產品(pǐn)改進的(dí)重(zhòng)要(yào)依據或(huò)參考(kǎo)。

技術(shù)參數(shù):
測試(shì)室溫度(dù)範(fàn)圍(wéi):-40℃~+150℃(風(fēng)冷式)
低(dī)溫衝擊範(fàn)圍:-10℃~-40℃(任意(yì)可(kě)調)
高(gāo)溫衝(chōng)擊範圍:60℃~150℃(任(rèn)意(yì)可(kě)調(tiáo))

檢(jiǎn)測(cè)儀器(qì)設備 皓天(tiān)三(sān)箱冷熱衝(chōng)擊箱廠(chǎng)家
滿(mǎn)足標準(zhǔn)
♦GB/T 11158-2008 高溫(wēn)試驗箱技術條件(jiàn)
♦GB/T 10589-2008 低(dī)溫試驗箱(xiāng)技術條件(jiàn)
♦GB/T 2423.1-2001 電工(gōng)電子產(chǎn)品環(huán)境試(shì)驗(yàn) 第2部(bù)分:試(shì)驗方(fāng)法 試驗A:低(dī)溫
♦GB/T 2423.2-2001 電工(gōng)電子(zǐ)產品環境試驗(yàn) 第2部分:試驗方法(fǎ) 試驗B:高(gāo)溫(wēn)
♦GB/T 2423.22-2002 電(diàn)工電(diàn)子(zǐ)產(chǎn)品環境試驗(yàn) 第2部(bù)分(fēn):試驗方法 試(shì)驗N:溫(wēn)度變(biàn)化
♦GJB150.3-86 J用設備環境(jìng)實驗方法 高溫衝擊試驗(yàn)
♦GJB150.4-86 J用設備環境實驗(yàn)方法 低(dī)溫衝擊(jī)試(shì)驗(yàn)
♦GJB150.5-86 J用設備環(huán)境實(shí)驗方(fāng)法 溫度衝(chōng)擊試驗
♦GJB360.7-87 電子(zǐ)機電氣元件(jiàn)試驗方法 溫(wēn)度(dù)衝擊(jī)試(shì)驗





您(nín)的(dí)位(wèi)置:




