檢(jiǎn)測(cè)儀器設(shè)備 皓天(tiān)三(sān)箱高(gāo)低溫衝擊(jī)試驗箱

產品(pǐn)用途：

 冷熱衝擊試驗(yàn)箱可(kě)用(yòng)來測(cè)試材料結構(gòu)或復合(hé)材(cái)料，在瞬(shùn)間下(xià)經(jīng)*溫及極(jí)低(dī)溫的(dí)連續環(huán)境(jìng)下所能(néng)忍受的(dí)程度，藉(jiè)以在(zài)短時間(jiān)內試(shì)驗(yàn)其因(yīn)熱脹冷縮(suō)所(suǒ)引(yǐn)起的化(huà)學變(biàn)化或物理傷害。適(shì)用的對(duì)象(xiàng)包括(kuò)金屬
，汽車電子(zǐ)
，橡(xiàng)膠(jiāo)
，電(diàn)工電(diàn)子
，IC芯片(piàn)
，LED照明(míng)
，軍(jūn)工
，航空航天(tiān)等材(cái)料檢測(cè)分析(xī)的重要儀(yí)器設備，測試結果(guǒ)可作為其(qí)產(chǎn)品改進的(dí)重要(yào)依據或(huò)參考。

技術參數：

測(cè)試室(shì)溫度範圍:-40℃~+150℃(風冷式)

低(dī)溫衝擊(jī)範圍(wéi):-10℃~-40℃(任(rèn)意(yì)可(kě)調(tiáo))

高溫衝(chōng)擊範圍(wéi):60℃~150℃(任意可調(tiáo))

檢(jiǎn)測儀器設備 皓天三(sān)箱高低(dī)溫(wēn)衝擊試驗箱(xiāng)

滿足(zú)標準

♦GB/T 11158-2008 高(gāo)溫試驗(yàn)箱(xiāng)技(jì)術條(tiáo)件(jiàn)

♦GB/T 10589-2008 低(dī)溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

♦GB/T 2423.1-2001 電工(gōng)電子產(chǎn)品環境試(shì)驗 第2部分(fēn)：試驗方法 試(shì)驗(yàn)A：低溫

♦GB/T 2423.2-2001 電工(gōng)電(diàn)子(zǐ)產品環境試驗(yàn) 第2部(bù)分：試驗(yàn)方法 試(shì)驗(yàn)B：高溫(wēn)

♦GB/T 2423.22-2002 電工(gōng)電子產品環(huán)境試驗(yàn) 第2部(bù)分：試驗(yàn)方(fāng)法 試(shì)驗N：溫(wēn)度變化

♦GJB150.3-86 J用(yòng)設(shè)備(bèi)環(huán)境實驗方法 高溫衝擊試驗

♦GJB150.4-86 J用設(shè)備環境(jìng)實驗方(fāng)法 低(dī)溫(wēn)衝(chōng)擊試驗(yàn)

♦GJB150.5-86 J用設(shè)備(bèi)環境(jìng)實驗方(fāng)法 溫(wēn)度衝(chōng)擊(jī)試驗

♦GJB360.7-87 電子(zǐ)機(jī)電氣元件試驗(yàn)方法 溫度衝擊試驗

選(xuǎn)購(gòu)注(zhù)意(yì)事項

溫度(dù)範圍:根據(jù)測(cè)試需求選擇合適的(dí)溫度範圍，

溫度變化速率(shuài):考慮測(cè)試標準或產品要求，選擇(zé)合適(shì)的溫(wēn)度(dù)變(biàn)化速(sù)率。

樣品容量與尺寸:確(què)保試驗箱(xiāng)能夠容納並(bìng)適(shì)應待測(cè)試(shì)樣品的(dí)尺(chǐ)寸和(hé)數量

自(zì)動化程度:根(gēn)據(jù)實驗室的自動(dòng)化水平和操(cāo)作需求，選擇適(shì)合的自(zì)動化(huà)程度。

售後(hòu)服務:選(xuǎn)擇有(yǒu)良好售(shòu)後服(fú)務和技術支(zhī)持的(dí)供應商(shāng)，以確保設備(bèi)的長(cháng)期(qī)穩定運(yùn)行。