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試驗箱(xiāng)廠(chǎng)家(jiā) 三(sān)箱(xiāng)高(gāo)低(dī)溫衝(chōng)擊箱(xiāng) 現(xiàn)貨適(shì)用的(dí)對象包括(kuò)金屬(shǔ)，汽(qì)車電(diàn)子，橡膠，電(diàn)工電子，IC芯片(piàn)，LED照明，軍工，航(háng)空航天(tiān)等材(cái)料檢測(cè)分(fēn)析(xī)的重要(yào)儀器設(shè)備，測試(shì)結果可作為其產(chǎn)品(pǐn)改進(jìn)的重要(yào)依(yī)據或參(cān)考(kǎo)。
產(chǎn)品(pǐn)型號：TSD-150F-3P- 廠商性(xìng)質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家(jiā)
- 更新時(shí)間：2025-10-19
- 訪 問(wèn) 量(liáng)：874
| 品牌 | 廣皓天 | 價格區間(jiān) | 5萬(wàn)-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產 | 應用(yòng)領域 | 能(néng)源,電子/電池,道路(lù)/軌道/船(chuán)舶,航空航(háng)天,電氣(qì) |
| 高(gāo)溫(wēn)區 | +60℃～200℃ | 低(dī)溫區(qū) | -10℃～-60℃ |
| 溫(wēn)度(dù)波動度 | ±0.5℃ | 溫(wēn)度均匀(yún)度(dù) | ±3℃ |
| 溫度恢復(fù)時間(jiān) | 3～5 分(fēn)鐘(zhōng) | 高溫槽升(shēng)溫(wēn)速度 | 平均約(yuē) 5℃/min |
| 低(dī)溫(wēn)槽降(jiàng)溫速度 | 平(píng)均(jūn)約(yuē) 1.5℃/min | 高低(dī)溫暴(bào)露(lòu)時間(jiān) | 30min 以(yǐ)上 |
| 高(gāo)低(dī)溫轉(zhuǎn)換時間(jiān) | ≤10秒(miǎo) | 樣品(pǐn)容(róng)積(jī) | 36L |
| 工作(zuò)室尺寸(cùn) | 600×500×500mm（寬(kuān) × 高 × 深） | 外(wài)形尺(chǐ)寸 | 約(yuē) 1880×1850×2120mm |
| 電源 | 380V/50Hz | 重(zhòng)量 | 約 560kg |
試驗箱廠(chǎng)家 三箱高(gāo)低(dī)溫衝(chōng)擊(jī)箱 現(xiàn)貨(huò)
產品用(yòng)途：
冷熱(rè)衝擊(jī)試驗箱可(kě)用來(lái)測試材(cái)料結構(gòu)或復(fù)合材料(liào)，在(zài)瞬間下經(jīng)*溫及極低溫(wēn)的連(lián)續(xù)環境(jìng)下所(suǒ)能忍(rěn)受(shòu)的程度，藉以在短(duǎn)時(shí)間(jiān)內(nèi)試(shì)驗其因熱脹冷縮所(suǒ)引起的化學變(biàn)化或物理傷害。適用的(dí)對(duì)象包括金屬，汽(qì)車(chē)電子，橡膠(jiāo)，電工電(diàn)子(zǐ)，IC芯片，LED照明(míng)，軍工，航空航天等(děng)材料(liào)檢測分(fēn)析(xī)的重(zhòng)要儀(yí)器設備(bèi)，測試(shì)結果(guǒ)可作為(wéi)其(qí)產品(pǐn)改進的重(zhòng)要(yào)依(yī)據(jù)或(huò)參(cān)考。
技(jì)術(shù)參數：
最高(gāo)溫(wēn)衝擊範圍:150C
低溫衝(chōng)擊範圍(wéi):-65 ℃
高低溫(wēn)衝(chōng)擊(jī)範圍有(yǒu):-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃;
高(gāo)溫(wēn)室儲存最(zuì)高溫度(dù)範圍:60℃~+200℃;
低溫室儲存低(dī)溫度(dù)範圍:60℃~-75℃;
高溫(wēn)室(shì)升溫(wēn)時間:+20℃~+200℃約(yuē)60分(fēn)鐘(zhōng)
低溫(wēn)室降溫時間:+20℃~-75℃約(yuē)100分鐘(zhōng)
溫度(dù)恢(huī)復(fù)時間:3~5min(最(zuì)快轉(zhuǎn)換時間(jiān)在10秒鐘(zhōng)內可(kě)完(wán)成)
溫度波(bō)動(dòng)度:士0.5℃
溫(wēn)度(dù)偏(piān)差(chà):<士2℃
測試室溫度範圍:-40℃~+150℃(風冷式(shì))
低溫衝(chōng)擊範圍:-10℃~-40℃(任意(yì)可調)
高(gāo)溫(wēn)衝(chōng)擊範(fàn)圍(wéi):60℃~150℃(任意(yì)可(kě)調)
試(shì)驗箱廠家(jiā) 三(sān)箱高低溫(wēn)衝(chōng)擊箱 現(xiàn)貨
滿足標準(zhǔn)
♦GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
♦GB/T 10589-2008 低(dī)溫(wēn)試驗箱(xiāng)技術(shù)條件(jiàn)
♦GB/T 2423.1-2001 電工電子產品環境試(shì)驗 第2部分：試(shì)驗(yàn)方法(fǎ) 試驗A：低(dī)溫
♦GB/T 2423.2-2001 電(diàn)工電子產品環境試驗 第(dì)2部分(fēn)：試(shì)驗(yàn)方法(fǎ) 試(shì)驗(yàn)B：高(gāo)溫
♦GB/T 2423.22-2002 電工電子產品(pǐn)環(huán)境試(shì)驗(yàn) 第(dì)2部分(fēn)：試(shì)驗方法(fǎ) 試(shì)驗(yàn)N：溫度變化(huà)
♦GJB150.3-86 J用設備環境(jìng)實驗方法 高溫衝擊試(shì)驗
♦GJB150.4-86 J用(yòng)設備環境實(shí)驗(yàn)方法 低(dī)溫(wēn)衝擊(jī)試驗
♦GJB150.5-86 J用設備(bèi)環境實驗方法(fǎ) 溫度衝擊試驗
♦GJB360.7-87 電子機(jī)電(diàn)氣元(yuán)件試驗(yàn)方(fāng)法(fǎ) 溫(wēn)度衝擊試(shì)驗(yàn)
選購(gòu)注(zhù)意事項
溫度範圍:根(gēn)據(jù)測(cè)試需(xū)求選擇合適的(dí)溫度範(fàn)圍(wéi)，
溫度變(biàn)化速率:考(kǎo)慮測試(shì)標(biāo)準或(huò)產品要求(qiú)，選擇(zé)合適(shì)的(dí)溫(wēn)度(dù)變(biàn)化速率。
樣(yàng)品容(róng)量(liáng)與(yǔ)尺(chǐ)寸(cùn):確保試驗箱(xiāng)能夠(gòu)容(róng)納並適(shì)應(yīng)待測試(shì)樣品的(dí)尺寸和數量
自動化程(chéng)度:根據(jù)實驗(yàn)室的自動化水平(píng)和操(cāo)作需求(qiú)，選擇適(shì)合的自動(dòng)化(huà)程度(dù)。
售後服(fú)務:選擇有良好售後(hòu)服務和(hé)技術支(zhī)持的供(gōng)應(yīng)商(shāng)，以確(què)保設(shè)備的(dí)長(cháng)期穩定(dìng)運行(háng)。
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