試(shì)驗箱廠(chǎng)家 高低溫衝(chōng)擊(jī)測試箱 皓天品牌高(gāo)溫(wēn)衝擊(jī)試驗(yàn)設備(bèi)|低(dī)溫衝(chōng)擊試驗(yàn)設備主要用於電子(zǐ)電(diàn)器(qì)零(líng)組(zǔ)件(jiàn)塑膠(jiāo)等(děng)行(háng)業(yè),國防工業,兵(bīng)工(gōng)業(yè),航(háng)天(tiān),BGA,PCB基扳,,自動化零部件,通(tōng)訊組件,汽(qì)車(chē)配件(jiàn),金屬(shǔ),化學材(cái)料,電(diàn)子芯片(piàn)IC,半導體(tǐ)陶(táo)磁及(jí)高(gāo)分(fēn)子材(cái)料之物(wù)理(lǐ)牲變(biàn)化(huà)進行試驗(yàn),可(kě)確認產品(pǐn)在環境中(zhōng)突(tū)變(biàn)的性(xìng)能。用來測(cè)試材料(liào)結構或復(fù)合材料,在(zài)瞬(shùn)間下經高溫及(jí)極低(dī)溫(wēn)的(dí)連續環(huán)境下所能忍(rěn)受(shòu)的程度,藉(jiè)以(yǐ)在(zài)最(zuì)短(duǎn)時(shí)間(jiān)內試驗(yàn)其(qí)熱(rè)脹冷
產(chǎn)品型(xíng)號:TSD-150F-3P
廠(chǎng)商(shāng)性(xìng)質:生產(chǎn)廠家
更(gēng)新(xīn)時(shí)間(jiān):2025-10-19
訪 問(wèn) 量:744
| 品(pǐn)牌 | 廣皓天 | 價格區間(jiān) | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類(lèi)別(bié) | 國產 | 應用(yòng)領域 | 能(néng)源,電子/電池,道(dào)路(lù)/軌(guǐ)道(dào)/船舶(bó),航空航(háng)天,電氣 |
| 高溫區 | +60℃~200℃ | 低(dī)溫區 | -10℃~-60℃ |
| 溫度波(bō)動度(dù) | ±0.5℃ | 溫(wēn)度(dù)均匀度 | ±3℃ |
| 溫度恢(huī)復時(shí)間(jiān) | 3~5 分(fēn)鐘(zhōng) | 高(gāo)溫槽升(shēng)溫(wēn)速度 | 平(píng)均(jūn)約(yuē) 5℃/min |
| 低溫(wēn)槽降(jiàng)溫速(sù)度(dù) | 平均(jūn)約 1.5℃/min | 高低溫暴露(lòu)時間(jiān) | 30min 以上(shàng) |
| 高低(dī)溫轉換時(shí)間(jiān) | ≤10秒(miǎo) | 樣(yàng)品容積 | 36L |
| 工(gōng)作室(shì)尺寸 | 600×500×500mm(寬(kuān) × 高 × 深) | 外(wài)形尺寸 | 約(yuē) 1880×1850×2120mm |
| 電源 | 380V/50Hz | 重量(liáng) | 約 560kg |
試驗箱廠家 高低(dī)溫衝擊(jī)測試箱(xiāng) 皓(hào)天(tiān)品(pǐn)牌(pái)
產品用(yòng)途(tú):
高(gāo)溫衝擊試驗設(shè)備|低溫衝(chōng)擊試驗設備主要(yào)用於電(diàn)子(zǐ)電(diàn)器零(líng)組(zǔ)件塑膠等(děng)行業(yè),國(guó)防(fáng)工業(yè),兵(bīng)工業,航天(tiān),BGA,PCB基扳(bān),,自動化(huà)零部件(jiàn),通(tōng)訊組件(jiàn),汽車(chē)配(pèi)件,金屬,化(huà)學材(cái)料(liào),電子(zǐ)芯片(piàn)IC,半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)陶(táo)磁及(jí)高(gāo)分(fēn)子(zǐ)材料(liào)之物理牲變化進(jìn)行試(shì)驗(yàn),可確(què)認(rèn)產品在環境(jìng)中(zhōng)突變(biàn)的性能。用來(lái)測(cè)試材(cái)料(liào)結(jié)構(gòu)或復(fù)合材(cái)料,在瞬(shùn)間下經高溫(wēn)及(jí)極(jí)低(dī)溫(wēn)的連(lián)續環境(jìng)下(xià)所能忍(rěn)受(shòu)的(dí)程度,藉以(yǐ)在最短時(shí)間(jiān)內(nèi)試(shì)驗(yàn)其熱(rè)脹(zhàng)冷(lěng)縮所(suǒ)引起(qǐ)的(dí)化學變化(huà)或物理(lǐ)變化。

技術參(cān)數(shù):
最(zuì)高溫衝擊(jī)範圍:150C
低溫(wēn)衝擊範(fàn)圍(wéi):-65 ℃
高低溫(wēn)衝(chōng)擊範圍(wéi)有:-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃;
高(gāo)溫室(shì)儲存(cún)最高溫度(dù)範圍(wéi):60℃~+200℃;
低溫室儲(chǔ)存(cún)低(dī)溫度(dù)範圍:60℃~-75℃;
高溫室升溫時間:+20℃~+200℃約60分鐘
低溫室降溫時間:+20℃~-75℃約100分(fēn)鐘
溫度(dù)恢復時(shí)間:3~5min(最(zuì)快(kuài)轉(zhuǎn)換(huàn)時間在10秒鐘內可完(wán)成)
溫度波動(dòng)度(dù):士(shì)0.5℃
溫(wēn)度偏差:<士(shì)2℃
測試室溫度範圍(wéi):-40℃~+150℃(風冷(lěng)式)
低溫(wēn)衝(chōng)擊範(fàn)圍:-10℃~-40℃(任意(yì)可調)
高溫衝擊範(fàn)圍:60℃~150℃(任(rèn)意(yì)可(kě)調)

試驗箱(xiāng)廠家(jiā) 高(gāo)低溫(wēn)衝(chōng)擊(jī)測試(shì)箱 皓天品牌
滿(mǎn)足(zú)標(biāo)準
♦GB/T 11158-2008 高(gāo)溫試驗箱(xiāng)技術條(tiáo)件(jiàn)
♦GB/T 10589-2008 低(dī)溫試驗箱技(jì)術(shù)條件
♦GB/T 2423.1-2001 電工電子(zǐ)產品(pǐn)環(huán)境試驗(yàn) 第2部(bù)分:試驗(yàn)方(fāng)法(fǎ) 試驗A:低(dī)溫
♦GB/T 2423.2-2001 電工電子產品環(huán)境試驗(yàn) 第(dì)2部(bù)分(fēn):試(shì)驗(yàn)方法(fǎ) 試驗(yàn)B:高(gāo)溫(wēn)
♦GB/T 2423.22-2002 電(diàn)工電子產品(pǐn)環境(jìng)試驗 第2部(bù)分:試(shì)驗(yàn)方法 試驗N:溫度(dù)變(biàn)化
♦GJB150.3-86 J用(yòng)設(shè)備環(huán)境(jìng)實驗(yàn)方法(fǎ) 高溫衝擊試(shì)驗(yàn)
♦GJB150.4-86 J用(yòng)設(shè)備環(huán)境實驗(yàn)方法(fǎ) 低溫衝擊試驗
♦GJB150.5-86 J用(yòng)設備環(huán)境(jìng)實驗(yàn)方法 溫度衝擊(jī)試(shì)驗
♦GJB360.7-87 電子機電(diàn)氣元件(jiàn)試(shì)驗方法 溫度衝(chōng)擊(jī)試(shì)驗(yàn)



1.工(gōng)作原理
水(shuǐ)冷式(shì)一般由水(shuǐ)塔(tǎ)(冷(lěng)水機),水(shuǐ)箱(xiāng),水泵和配(pèi)管組成:
1)水塔(冷水機)通(tōng)過(guò)壓縮機和蒸發器將(jiāng)循(xún)環水冷卻(què)。
2)冷卻後(hòu)的水被(bèi)泵送到試驗箱中(zhōng)。
3)水吸收(shōu)冷(lěng)熱量後(hòu)返(fǎn)回(huí)水(shuǐ)箱。
4)循(xún)環(huán)水(shuǐ)在水箱中(zhōng)再次被冷(lěng)卻和淨化。
5)水泵(bèng)再次將(jiāng)冷卻(què)好的(dí)水泵(bèng)送到試驗(yàn)箱(xiāng)中,形(xíng)成循(xún)環。
風冷(lěng)式一般由(yóu)壓(yā)縮(suō)機,換熱器,風(fēng)機(jī)和(hé)管路組成:
1)通(tōng)過(guò)壓縮機(jī)將周圍氣(qì)體壓(yā)縮成(chéng)高(gāo)壓(yā)氣體。
2)高壓(yā)氣體(tǐ)通(tōng)過換熱(rè)器被(bèi)冷卻。
3)冷卻(què)後的低(dī)溫高壓(yā)氣體(tǐ)通(tōng)過管(guǎn)路(lù)送入試(shì)驗箱(xiāng),
4)試驗箱中(zhōng)的熱(rè)量被吸收(shōu)後,氣體(tǐ)被排(pái)出並在換(huàn)熱器中得到再次冷(lěng)卻,
5)循(xún)環(huán)往(wǎng)復(fù),直到試(shì)驗完成。
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